WT-2000半導(dǎo)體多功能測(cè)試

產(chǎn)品簡(jiǎn)介
WT-2000提供349nm，904nm，1064nm，1550nm等不同激發(fā)光，適合Si，SiC，GaAs，CdZnTe，InGaAs等各種材料電學(xué)參數(shù)測(cè)試。

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2025-04-23

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導(dǎo)體材料測(cè)試

體微缺陷測(cè)試霍爾電阻遷移率光伏光致發(fā)光深能級(jí)瞬態(tài)譜測(cè)試橢偏拉曼AFM 半導(dǎo)體多功能測(cè)試 CV測(cè)試系統(tǒng)集成測(cè)試儀器租賃

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· Measurement Options.
· μ-PCD 技術(shù)做少子壽命掃描測(cè)試
· 表面光電壓(SPV)做擴(kuò)散長度面掃描測(cè)試
· 光誘導(dǎo)電流(LBIC)測(cè)試材料缺陷分布
· 測(cè)試特定金屬雜質(zhì)和沾污:Fe
· 渦流法測(cè)試電阻率
· 4探針測(cè)試電阻率

WT-2000半導(dǎo)體多功能測(cè)試

上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測(cè)器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場(chǎng)上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場(chǎng)地位和影響力。

上一個(gè)：WT-1200A 單點(diǎn)式少子壽命測(cè)試系統(tǒng)