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低溫和探針臺(tái)
顯微冷熱臺(tái)
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MHS400V-4P探針冷熱臺(tái)是一款專門(mén)針對(duì)半導(dǎo)體芯片研發(fā)、測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品。這款探針冷熱臺(tái)擁有高精度的探針位移平臺(tái),具有良好的真空性能和精準(zhǔn)的溫控系統(tǒng)。
MHS-P600G探針冷熱臺(tái)是一款針對(duì)材料研究過(guò)程中變溫電學(xué)測(cè)試而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品,可表征材料升溫和降溫階段,其電學(xué)性能隨溫度變化的特征。 熱臺(tái)可以搭配顯微鏡,光譜儀,XRD等光學(xué)設(shè)備。 MHS-P600G可以在-196℃~600℃之間快速且精準(zhǔn)的控制樣品的溫度,實(shí)現(xiàn)樣品在氣密環(huán)境下的變溫光學(xué)觀察及測(cè)試。
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